電性參數測試可以節省大量的生產成本：它減少了維修，尤其是在沒有全面性功能測試的情況下，可鎖定功能測試無法檢測到的缺陷，使生產技術人員能夠自主篩選出不良品以保證產品質量。Seica 解決方案：Compact Line和Pilot Line.

50微米超小測試點進行飛針測試

飛針的特點是靈活。 但常常該解決方案也面臨定制化的要求。 用于芯片測試的 ATE 使用所謂的“晶元接口”（即探針卡）來接觸晶元在封裝前對芯片進行測試。 這些探針卡的測試往往需要需要接觸典型尺寸為 50 微米的測試點。 對這些測試點測試來保證探針卡正反面的導通連接性。

由于其定位精度和在電路板兩側的并行測試，PILOT V8?NEXT>系列秩序最少定制即可達到最佳解決方案。

實現

· 通過將可用的探頭減少到2個來定制 Pilot V8 測試系統

· 這2個測試頭將配置高精度電機和超軟針來適用于PCB測試

· 安裝高分辨率相機以正確顯示超小測試點

優點

·探針卡自動化測試

· 安全且可重復的放板方式

· 可對探針卡上的元器件進行MDA測試

LED板的ICT和功能測試

近年來，由于在相關技術上的創新，LED 已成為廣泛使用的元件，不僅作為指示燈，也可以用作真正的光源。 電子制造領域持續的進行著優化貼裝和測試的工藝，因為有大量與工藝和測試相關的相關問題需要解決。 在這方面，在汽車行業具有挑戰性的需求驅動下，Seica測試設備集成了特殊LED測試傳感器的方案，能夠測試覆蓋各種LED參數，并保證LED按規范運行。

實現：

· Compact SL測試設備和FEASA LED測試模塊之間的軟件集成

· 安裝具有LED燈板電路測試以及每個 LED 單獨光纖專用夾具

· 測試流程：D.U.T.ICT初步測試，D.U.T. 上電，帶有 LED 上電后的功能測試，通過傳感器采樣分析LED特性。

優點:

 在復雜參數要求情況下亦能保證客觀的產品質量

·無需操作員

·不良產品維修時能快速定位不合格元件